საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტის
ვლადიმერ ჭავჭანიძის სახელობის კიბერნეტიკის ინსტიტუტი
სანდრო ეულის ქ. 5, თბილისი 0186, საქართველო
ტელ. +995 32 2187633; +995 32 2187055.
ფაქსი +995 32 2545931
ელ-ფოსტა ic@cybernet.ge


Check e-mail
Vladimir Chavchanidze Institute of Cybernetics
of the Georgian Technical University
Sandro Euli str. 5, Tbilisi 0186, Georgia
Tel. +995 32 2187633; +995 32 2187055.
Fax. +995 32 2545931
e-mail ic@cybernet.ge

თავფურცელი
Home
განცხადებები
Announcements
დებულება
Regulations
სამეცნიერო საბჭო
Academic Council
სტრუქტურა და სია
Structure & Staff
წლიური ანგარიში
Annual report
საერთაშორისო პროექტები
International Projects

ბიოკიბერნეტიკული სისტემების განყოფილება

 

უაღრესად დიდი მნიშვნელობა ენიჭება ნეირონის მიერ ინფორმაციის გადამუშავების გამოკვლევას სხვადასხვა გარემო ფიზიკური ფაქტორების ზემოქმედების პირობებში. ერთერთ ასეთ ფიზიკურ გარემოს წარმოადგენს რადიო სიხშირის მქონე ელექტრომაგნიტური ველი და ის უაღრესად დაბალი სიხშირეების მქონე ელეტრომაგნიტური ველები, რომლებითაც ხდება რადისიხშირული ელექრტომაგნიტური ტალღის მოდულირება GSM საკომუნიკაციო სისტმებში.

დადგენილ იქნა რომ GSM საკომუნიკაციო სისტემებში გამოყენებული 900 მგჰც სიხშირის ელექტრომაგნიტური ველი ხანგრძლივი ექსპოზიციის პირობებში იწვევს ცალკეული ნეირონის დონეზე ინფორმაციის შენახვის უნარის ცვლილებას, რაც ლატენტური პერიოდის შემცირებაში და ქმედების პოტენციალის პიკურ პარამეტრების ცვლილებაში გამოიხატება.

 

 

 

 

a

b

 

სურათი #4

 

a-      ქმედების პოტენციალი და მისი პიკური პარამეტრები დაუსხივებელი ნეირონისათვის.

b-     ქმედების პოტენციალი და პიკური პარამეტრები ნეირონი დახივების     შემდეგ. მობილური ტელეფონით  ნეირონის დასხივება ხდებოდა TEM Cell-ში. სპეციფიური შთანთქმის თანრიგი შეადგენს 0,63 ვტ/კგ. ლატენტური პერიოდისა და პიკური პარამეტრების შეცირება აშკარად დაიმზირება.

 

მობილური ტელეფონის მიერ გამოსხივებილი რადიოსიხშირის ელექტრომაგნიტური ტალღა მოდულირებულია დაბალი სიხშირეებით. ე.წ. უაღრესად დაბალი სიხშირეები.

ჩვენ ვაჩვენეთ რომ, ამ სიხშირეების მქონე ელეტქრომაგნიტური ველები (8,3 ჰც, 217 ჰც, 2 ჰც) იწვევენ ცაკლეულ ნეიორნის დონეზე ინფორმაციის შენახვის უნარის დათრგუნვას იხ. სურათი #5

 

სურ. .5

 

დეჰაბიტუაციის ეფექტი გამოწვეული ნეირონის მოთავსებით ცვლად მაგნიტურ ველში (ჰელჰოლცის კოჭებში). მაგნიტური ველის პიკური ნიშვნელობა 6 mT ტოლია. რხევის სიხშირე შეადგენს 8 ჰერცს.

 

 

 

↑↑

 

It is highly important to know information processing when nervous system is affected by different physical factors. One of such factors is electromagnetic field (EMF). Importance of knowledge of the EMFs bio-effects was arisen after wide diffusion of wireless communication devices. It is well known that both RF EMF and ELF EMF are present in GSM communication systems.

We have shown that neuron long term exposure to the cell phone irradiation causes reduction of the latency period of the action potentials and changes of their pick parameters also – figure 4.

 

a

b

 

Fig. 4 

  1. Action potential (AP) and it’s peak parameters for sham irradiated neuron.
  2. AP after exposure of the neuron to the cell phone irradiation in the TEM Cell. SAR=0,63 W/kg

Reduction of the latency period and peak parameters are evident.

 

 

 

 

Besides, it was shown that ELF MFs utilized in cell phone irradiation (,8,34Hz, w217 Hz and 2 Hz) causes neuron dehabituation and consequently degradation of the signal to noise ratio and alteration of the neuron's normal function –figure 5.

 

 

Fig.5

 

 

 

Effect of dehabituation caused by exposure of the neuron to the ELF MF with 6 mT peak value. Frequency of the ELF was 8 Hz.

Neuron stimulation with intracellular current impulses (the impulse amplitude 0,5 nA, duration 4 msec). caused neuron reactions as AP firing and complete habituation in 60 seconds. Each intracellular stimulant current impulse causes firing only one AP as a neuron reaction. After establishing of the complete habituation (after 45 sec of stimulation) AP firing is abolished and only small artifacts are noticeable on the recordings. At the 65th sec the stimulation neuron is exposed to the ELF MF with frequency 8,3 Hz and pick value equal to 6 mT. . Neuron reaction as AP firing is restored during this exposure.